创新快闪记忆体技术　爱德万T5851测试机台获FMS肯定

半导体测试领导厂商爱德万测试今日宣布，爱德万测试T5851系统在8月9日至11日举行的加州圣克拉拉第11届年度快闪记忆体高峰会中，勇夺快闪记忆体与固态储存产业最高荣誉的“最佳参展项目奖”，有助于业者借由快闪记忆体...

半导体测试领导厂商爱德万测试今日宣布，爱德万测试T5851系统在8月9日至11日举行的加州圣克拉拉第11届年度快闪记忆体高峰会中，勇夺快闪记忆体与固态储存产业最高荣誉的“最佳参展项目奖”，有助于业者借由快闪记忆体测试，进一步提升电子产品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。

德万测试表示，T5851系统在快闪记忆体高峰会“最创新快闪记忆体技术”评鉴类别深获肯定，为半导体测试带来革命*的突破。该系统提供单一多协议工具，针对高效能通用快闪储存装置与PCIe BGA固态硬盘做测试，大幅降低客户的资本投资与部署风险。此外，T5851采用 Tester-per-DUT架构与专利硬件加速器，成就业界最短的测试时间，进而减少测试成本。T5851专为NAND装置的大量测试、可靠*测试与品质测试而设计，且系统具弹*，若搭配自动元件分类机如爱德万测试M6242系统，则最高可平行测试768个装置。

爱德万测试执行董事山田弘益表示：“爱德万测试为非挥发*记忆体市场带来的创新突破，对于低功率的行动应用至为关键，而我们的努力能受到业界肯定，敝公司深感荣幸。T5851系统在设计上瞄准了这类装置在系统级测试上的需求，同时又能兼顾市场对于可靠*、成本控制和大量生产的期待。

快闪记忆体高峰会大奖计划主席Jay Kramer表示：“新兴消费*电子产品采用快闪储存技术已成趋势，市场快速拓展，而业界能否提供可扩张的快闪记忆体测试平台将成为一大挑战。我们很荣幸地将‘最佳参展项目技术创新奖’颁发给爱德万测试T5851系统，该系统适用于广泛的测试方案环境，无论是生产模型还是工程模型皆可应用；而其多元*也获得肯定，举凡智慧型手机、平板电脑、超轻薄可携式笔电的记忆体IC皆可测试。”